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德国Bruker X-射线荧光测厚仪

德国Bruker X-射线荧光测厚仪

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M1—Mistrial X-射线荧光镀层测厚仪
    Mistrial系列是一款简洁、坚固和可靠的质量控制XRF台式荧光系统,用于简便、快速的镀层厚度测试和材料分析。

    Mistrial可应用于常规金属处理、电子元器件制造和金属测定(如珠宝鉴定)等行业,完成单层或多层厚度测量。

主要特点包括:;
成本低、快速、非破坏的EDXRF分析
可完成至多12层镀层(另加底材)和25个元素的镀层厚度测试,
卓越的多元素辨识,广泛覆盖元素表上从钛(原子序数22号)到铀(92号)各元素

使用广受推崇的能量色散X射线荧光(EDXRF)技术, Mistrial可实现如下测试要求:
符合ISO3497标准测试方法:金属镀层——X射线光谱法测量镀层厚度 
符合ASTM B568标准测试方法:X射线光谱仪测量镀层厚度,包括金属和部分非金属镀层
至多同时分析25种元素

如需了解详细产品规格资料,烦请不吝来电!


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M1—Mistrial X-射线荧光镀层测厚仪
    Mistrial系列是一款简洁、坚固和可靠的质量控制XRF台式荧光系统,用于简便、快速的镀层厚度测试和材料分析。

    Mistrial可应用于常规金属处理、电子元器件制造和金属测定(如珠宝鉴定)等行业,完成单层或多层厚度测量。

主要特点包括:;
成本低、快速、非破坏的EDXRF分析
可完成至多12层镀层(另加底材)和25个元素的镀层厚度测试,
卓越的多元素辨识,广泛覆盖元素表上从钛(原子序数22号)到铀(92号)各元素

使用广受推崇的能量色散X射线荧光(EDXRF)技术, Mistrial可实现如下测试要求:
符合ISO3497标准测试方法:金属镀层——X射线光谱法测量镀层厚度 
符合ASTM B568标准测试方法:X射线光谱仪测量镀层厚度,包括金属和部分非金属镀层
至多同时分析25种元素

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